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致茂Chroma 3280Test-In-Tray 測(cè)試分類(lèi)機(jī)

主要特色：

• 整合SD卡測(cè)試機(jī)與自動(dòng)分類(lèi)機(jī)功能
• 平行測(cè)試120個(gè)micro SD卡
• Test-In-Tray
• UPH = 5400 (以70秒的測(cè)試時(shí)間為例)
• 支援SD卡資料通訊協(xié)定
• 支援DC參數(shù)量測(cè)功能
• Microsoft Windows XP OS
• 提供Tray Map與分類(lèi)結(jié)果資訊
• 小機(jī)臺(tái)體積 : 164cm x 79cm x 180cm
• 選配設(shè)備
• 3rd Party測(cè)試模組整合
• Mini SD, SD與MMC的測(cè)試介面
• SD卡資料寫(xiě)入模組

Chroma 3280采用創(chuàng)新的技術(shù)整合SD卡測(cè)試機(jī)與 自動(dòng)分類(lèi)機(jī)的功能，并利用Test-In-Tray的技術(shù)來(lái) 達(dá)到大量平行測(cè)試的能力。透過(guò)支援SD資料傳 輸協(xié)定(SD Protocol Aware)與提供特定DC參數(shù)測(cè) 試的功能，3280為所有的SD卡類(lèi)產(chǎn)品帶來(lái)了一 個(gè)創(chuàng)新的測(cè)試方法，而這高效率的測(cè)試方法也為 客戶(hù)帶來(lái)大幅降低生產(chǎn)成本的好處。此外，小機(jī) 臺(tái)的設(shè)計(jì)更可節(jié)省機(jī)臺(tái)于測(cè)試廠之占地面積。

對(duì)于低價(jià)的消費(fèi)性產(chǎn)品而言,即使在生產(chǎn)成本上 僅有些微的差距，制造商也會(huì)極為敏感。而這樣 的特性往往是此類(lèi)消費(fèi)性產(chǎn)品在成品測(cè)試中之一 大挑戰(zhàn)。對(duì)于SD卡類(lèi)產(chǎn)品而言，為了能夠降低 生產(chǎn)的成本，SD卡類(lèi)制造商了解在SD卡的制程 中必須采用Known Good Die(KGD)來(lái)進(jìn)行生產(chǎn)。 其主要的原因，乃是因?yàn)椴捎肒GD生產(chǎn)的SD卡類(lèi) 產(chǎn)品，將可減少在成品測(cè)試中對(duì)于測(cè)試項(xiàng)目的要 求，只需針對(duì)成品封裝過(guò)程中所可能產(chǎn)生的瑕疵 進(jìn)行檢測(cè)，而不需要再對(duì)整個(gè)晶片進(jìn)行完整的測(cè) 試。

Chroma 3280整合了測(cè)試機(jī)臺(tái)與自動(dòng)分類(lèi)機(jī)的功 能，并采用創(chuàng)新的設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足采用KGD生產(chǎn)的SD 卡類(lèi)產(chǎn)品的測(cè)試需求，不論是在機(jī)臺(tái)的成本或是 體積上，都比傳統(tǒng)的測(cè)試機(jī)臺(tái)來(lái)的大幅降低，因 此也就能夠相對(duì)地大幅降低測(cè)試的成本。

Chroma 3280提供SD卡高效率的測(cè)試解決方案

Test-In-Tray : 乃是將待測(cè)物置于IC托盤(pán)中直接測(cè) 試的測(cè)試方式。利用這樣的測(cè)試方法，可以大幅 節(jié)省傳統(tǒng)的測(cè)試方法因自動(dòng)分類(lèi)機(jī)在進(jìn)行測(cè)試 時(shí)，必須以機(jī)器手臂夾取每個(gè)待測(cè)元件所需花取 的索引時(shí)間。因此，提供了一個(gè)蕞有效率的測(cè)試 方法。在Chroma 3280中,對(duì)于120個(gè)SD卡進(jìn)行測(cè) 試時(shí)所需花費(fèi)的索引時(shí)間大約只有10秒鐘。

高平行測(cè)試能力 : Chroma 3280配備了一個(gè)專(zhuān)屬 的SD卡測(cè)試機(jī)巢 (Test Hive)，此一測(cè)試機(jī)巢提供 了能夠同時(shí)測(cè)試120個(gè)micro SD卡的測(cè)試能力。

僅移除SD卡測(cè)試壞品 : 由于3280使用置于盤(pán)中 直接測(cè)試(Test-In-Tray)以及SD卡有著高良率的特 性，3280采取僅從整盤(pán)的SD卡中移除于測(cè)試過(guò) 程中所偵測(cè)到的瑕疵品到廢品盤(pán)內(nèi)，同時(shí)再?gòu)念A(yù) 先準(zhǔn)備好的補(bǔ)充盤(pán)中夾取已測(cè)試過(guò)的良品來(lái)補(bǔ)足 目前測(cè)試盤(pán)中被移除的壞品，而將目前的測(cè)試盤(pán) 填滿(mǎn)成一完整的良品，并送至完測(cè)區(qū)。假設(shè)若以 98%的測(cè)試良率而言，每次僅需從測(cè)試盤(pán)中移除 2到3個(gè)壞品。因此，在進(jìn)行好壞品分類(lèi)中平均 所花的時(shí)間將小于測(cè)試所花的時(shí)間，不須要等候 分類(lèi)工作完成后才能進(jìn)行下一次的測(cè)試，也使得 整體的測(cè)試時(shí)間更有效率。

SD卡測(cè)試模組 : Firecracker II

Firecracker II的電路設(shè)計(jì)與裝置于3280測(cè)試機(jī)巢 (Test Hive)中的測(cè)試模組其電路設(shè)計(jì)*一樣。 對(duì)于3280的使用者而言，F(xiàn)irecracker II是一個(gè)相 當(dāng)方便的工具。它能夠使得使用者在與3280離線(xiàn) 的狀態(tài)下，用來(lái)產(chǎn)生或測(cè)試其測(cè)試程式。透過(guò)多 樣化轉(zhuǎn)接介面的設(shè)計(jì)，使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待測(cè)物，而將其右邊的USB介面可插入電腦的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的軟體程式， 使用者將可進(jìn)行直接的測(cè)試或是除錯(cuò)等工作。

測(cè)試能力

SD Protocol Aware Tests

• Check CID Reg
• Check CSD Reg
• Check OCR Reg
• Check SCR Reg
• Check SD Status
• Functional Test

DC Measurements

• Open/Shorts
• ESD Diodes
• Power Up Idd
• Leakage

軟體功能

• 使用者權(quán)限與密碼管理
• 機(jī)臺(tái)狀況警示偵測(cè)系統(tǒng)
• 視覺(jué)化圖解顯示機(jī)臺(tái)卡件錯(cuò)誤發(fā)生區(qū)域
• 提供離線(xiàn)模擬執(zhí)行模式
• 即時(shí)測(cè)試結(jié)果顯示與更新
• 可個(gè)別或取消單一待測(cè)物之測(cè)試
• 測(cè)試良率與UPH資訊顯示
• 多種良率監(jiān)控指標(biāo)設(shè)定
• 測(cè)試中機(jī)臺(tái)開(kāi)門(mén)中斷保護(hù)功能
• 緊急停機(jī)控制功能
• 系統(tǒng)警示紀(jì)錄保存功能

Sorting Status

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